研究業績

特許一覧

 皆様に財団法人塩事業センター海水総合研究所が開発した研究成果をご利用していただくことを目的に、当センターが保有する特許等の知的財産権を広く公開するものです。ご興味のある技術がありましたら、ご相談下さい。
No. 特許の名称 公開番号/登録番号
1 食塩成型品の製造方法 H2-49558/1806528 要約
2 湿式分級装置 H4-11959/1853474 要約
3 食塩の固結防止方法 H6-24738/2517853 要約
4 硫酸イオン濃度検出センサ-及び硫酸イオン濃度検出方法 H6-186161/2560230 要約
5 中赤外領域の波長による硫酸イオン濃度検出センサーおよび硫酸イオン濃度検出方法 H6-186162/2560231 要約
6 溶液組成測定システム H7-128283/2702392 要約
7 溶液組成測定システム H7-128284/2702393 要約
8 製塩用晶析装置における缶内結晶懸濁密度測定方法および装置 H7-140057/2757953 要約
9 製塩における粒径分布測定のための試料の調製方法および調整装置 H7-140053/2600059 要約
10 湿式分級装置 H7-178347/2081685 要約
11 製塩における粒径分布測定用試料の調製方法 H8-122242/2757954 要約
12 製塩工程における成分濃度測定方法 H8- 240526/2756422 要約
13 製塩工程における溶液サンプリング装置 H8-338827/2702449 要約
14 塩のカリウムイオン含有量分析方法及び分析装置 H10-206366/2950534 要約
15 塩の硫酸イオン含有量分析方法及び分析装置 H10-206321/3085915 要約
16 凍結防止剤 H11-61095/2987570 要約
17 塩中のマグネシウムイオン含有量分析方法 2001-27602/3220114 要約
18 成分濃度自動測定システム 2001-343394/3297420 要約
19 成分濃度測定方法及び検量線校正方法 2001-343325/3406279 要約
20 製品結晶粒径制御装置 H7-138017/3431965 要約
21 製塩工程における微結晶の除去方法及び装置 2002-114513/3485537 要約
22 赤外線を用いた水分、粒径およびマグネシウム濃度の同時測定方法および測定の補正方法 2002-116142/3466556 要約
23 インライン粉粒体水分測定システム 2002-243638/3527476 要約
24 低温固結を防止するための塩化ナトリウム含有物質の処理方法 H8-198620/3628740 要約
25 インライン粉粒体粒径測定システム 2002-243621/3572023 要約
26 ろ過装置、それを用いた海水前処理方法および凝集剤の再生方法 2003-220306/4001490 要約
お問い合せ先: (財)塩事業センター 研究調査部
TEL 03-5743-7713
Fax 03-5743-7775